南京中电芯谷高频器件产业技术研究院
微波测试系统
研究院建立了S参数&小信号测试系统、微波功率测试系统以及噪声测试系统，测试频率由低频覆盖到500GHz，可满足小信号、功率、噪声等方面的测试需求，可按照需要搭建定制测试系统，进行相应的微波功率、噪声、频谱以及高低温特性测试。
光电测试系统
基于精密位移台、高分辨率显微成像组件、红外显微成像组件、光波测试系统、光电示波器、电源以及光学平台等构建了端面耦合测试系统，可进行光电器件端面耦合特性测试分析。基于通光光元器件分析仪、矢量网络分析仪、信号/频谱分析仪、信号发生器、调制器模块、电源以及光学平台构建了微波光子系统测试系统，可进行光响应带宽以及波长分辨率等微波光子器件典型特性测试分析。
微结构表征及热特性测试
研究院拥有等离子束扫描电子显微系统，可进行半导体芯片截面制备以及表面、截面几何结构测试以及结构中材料组分分析测试，满足半导体芯片结构分析以及芯片失效特性分析。三维成像显微镜可进行半导体芯片以及封装的模块电路三维形貌测试分析。热分析测试系统可进行芯片热阻、界面热阻、材料热参数等典型特性的分析表征。
